杭州萬深檢測科技有限公司
SC-X型小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
詳情信息
SC-X型小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
1．用途：
快速測量小麥的粒數、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等，面粉的麩星、砂石的大小和含量。用于實驗室快速檢測獲得批處理數據（包括小麥粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等；面粉的麩星、砂石的大小和含量）。小麥品質檢測方法符合GB/T 5504-2011《糧料檢驗 小麥粉加工精度檢驗》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。
2．儀器特點：
儀器由光學成像系統、智能分析軟件、220g量程1mg精度電子天平組成。系統具有卓越的自學習能力，實現人性化的一鍵式智能分析，并可交互修正個別的分類錯誤點，以達到100%正確分類結果。該分析系統能大批量處理，自動分析300個以上小麥和面粉樣品的高分辨率圖像。由專業軟件分析成像后的彩色圖像，準確、快速地測定小麥的粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度、籽粒飽滿度（即：可按面積自動排序及輸出）、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等指標，以及面粉中的麩星粒數和大小、麩星面積比和對應的砂石占比。軟件能讓用戶實時看到真實樣品分析過程情況，并交互修正；當面粉指標偏離設定參數時，可報警顯示；用戶可隨意查詢檢測結果，并打印。所有測試圖像分析結果和數據可在電腦上顯示并保存。數據準確可靠，結果穩定、重復性高；樣品可重復測試，重現性高。
3．主要性能指標*：
? 最大分析面積：小麥為A4紙幅面；面粉為35mm×35mm
? 測量時間：小麥≤2分鐘/樣品；面粉≤1分鐘/樣品視野。
? 小麥千粒重測量重復性誤差±≤0.5%
兩次掃描單面分析外觀品質的重復性誤差±≤2.0%
? 可接入條碼槍來自動刷入樣品編號，分析結果可對應樣品編號輸出至EXCEL表，分析圖像標記結果可保存。
4．儀器規格配置：
帶RS232線電子天平（220g量程、1mg精度）1臺，LED光源、最高光學分辯率4800×9600dpi雙光源彩色掃描儀1臺，單目體視顯微鏡+300萬像素相機1套、微型手動移動平臺1套，小麥外觀品質分析、面粉麩星檢測軟件光盤1張（含電子版操作手冊）、軟件鎖1只，籽粒收納盤1個，緊粉用面粉成像小盤1付。（電腦需另配）
儀器總尺寸、總重量：寬×深×高約50cm×40cm×12cm，～13kg。
選配電腦推薦:品牌一體機（酷睿雙核CPU / 4G內存/1G獨立顯卡/ 500G硬盤/19.5”彩顯/無線網卡，Windows 7完整專業版或完整旗艦版）
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